紅外光譜儀 Dimension IconIR

產品介紹

布魯克公司的大樣本Dimension IconIR系統在一個平臺上結合了納米級紅外光譜和掃描探針顯微鏡（SPM），為學術研究人員和工業用戶提供了*先進的光譜、成像和屬性測繪能力。IconIR融合了幾十年的研究和技術創新，在Dimension Icon?的行業*佳AFM測量能力的基礎上，提供了無*倫*的性能。該系統能夠實現相關的顯微鏡和化學成像，具有更高的分辨率和單層靈敏度，而其獨特的大樣本結構為*廣泛的應用提供了終*的樣本靈活性。

大樣本

*高性能的納米紅外光譜學

為各種樣品類型和應用提供更多的靈活性和性能。

相互關聯的

化學和納米級屬性圖譜

提供定量的納米化學、納米力學和納米電學數據。

亞10納米

光熱AFM-IR成像

實現了*高分辨率的表征，具有單層敏感性。

在單一系統中，IconIR為納米級紅外光譜、化學成像分辨率和單層靈敏度提供*高性能。

只有Dimension IconIR能提供。

具有準確和可重復的FT-IR相關的高性能納米紅外光譜，<10納米的化學分辨率，以及單層靈敏度

采用PeakForce Tapping?納米力學和納米電學模式進行相關的化學成像

*高性能的AFM成像和無可比擬的樣品靈活性，具有大樣品適應性*。

*廣泛的協調應用附件和AFM模式的可用范圍

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